Total internal reflection microscopy (TIRM)

Seit seiner Erfindung in der Mitte der 1980er Jahre hat sich die Total Internal Reflection Microscopy (TIRM) als eine äußerst sensible Technik für die Messung der Wechselwirkung zwischen kolloidalen Teilchen und einer planaren Oberflächen erwiesen. Es wurden Auflösung bis in den Femtonewtonbereich erzielt.
Für die Analyse der gemessenen Signale bei der TIRM-Methode ist eine genaue Kenntnis der Partikel-Wand-Abstandsabhängigkeit der Intensität der Streuung erforderlich.
Sowohl die Discrete Sources Method (DSM) als auch die Null-field Method with Discrete Sources (NFM-DS) wurden erweitert, um TIRM-Kalibrierungskurven simulieren zu können.

• Hertlein, C., Riefler, N., Eremina, E., Wriedt, T., Eremin, Y., Helden, L., Bechinger, C. "Experimental verification of an exact evanescent light scattering model for TIRM", Langmuir, 24 (1) 1-4 (2008). 

• Riefler, N., Eremina, E., Hertlein, C., Helden, L., Eremin, Y., Wriedt, T., Bechinger, C. "Comparison of T-matrix method with discrete sources method applied for total internal reflection microscopy", Journal of Quantitative Spectroscopy & Radiative Transfer, 106 (1-3) 464-474 (2007). 

• Eremina, E., Grishina, N., Eremin, Y., Helden, L., Wriedt, T. "Total internal reflection microscopy with a multilayered interface: a light scattering model based on a discrete sources method", Journal of Optics A-Pure and Applied Optics, 8 (11) 999-1006 (2006). 

• Eremina, E., Wriedt, T., Helden, L. (2006). Analysis of evanescent waves scattering by a single particle in Total Internal Reflection Microscopy, in Progress in Electromagnetics Research Symposium (PIERS 2006), pp447-449, Electromagnetics Acad, Cambridge, MA.

• Helden, L., Eremina, E., Riefler, N., Hertlein, C., Bechinger, C., Eremin, Y., Wriedt, T. "Single-particle evanescent light scattering simulations for total internal reflection microscopy", Applied Optics, 45 (28) 7299-7308 (2006).