IWT - Institut für Werkstofftechnik
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AFM Spitzen

Motivation

In vielen industriellen Prozessen (Pharmazie Lackherstellung, erneuerbare Energien etc.), in denen Nanopartikel verarbeitet werden (Fluidisierung, Agglomeration oder Filtrierung) sind Kenntnisse über das Adhäsionsverhalten grundlegenden für die Auslegung der Prozesse. Bisherige Modelle (JPK, DLVO und Kapillarkräfte) können dieses Verhalten nicht ganzheitlich beschreiben. Im Rahmen des durch die DFG geförderten Projektes “Partikel im Kontakt“ sollen experimentelle Untersuchungen und quantenmechanische Modellierungen an TiO2 Nanopartikeln Aufschluss über Adhäsionseffekte geben die auf der atomaren Skala auftreten und somit das Verhalten der Nanopartikel beeinflussen können.

Aufgabenstellung

Für die experimentellen Untersuchungen des Kontaktverhaltens zwischen Nanopartikeln spielt  Rasterkraftmikroskop (AFM) eine grundlegende Rolle. Für die Messungen mit dem AFM wird ein Cantilever benutzt, an dessen Ende eine sehr feine Spitze sitzt (Durchmesser einige Nanometer). Um mit dieser Spitze den direkten Partikel-Partikel Kontakt messen zu können, müssen diese funktionalisiert werden. Im Rahmen der Abschlussarbeit soll eine Methode entwickelt werden, mit der AFM-Spitzen entsprechend funktionalisiert werden können. Die funktionalisierten Spitzen werden im weiteren Verlauf für Messungen an TiO2 Nanopartikel verwendet um deren Anwendbarkeit darzustellen.

Möglicher Projektbeginn: sofort

Ansprechpartner:

Prof. Dr.-Ing. Lutz Mädler
Stiftung Institut für Werkstofftechnik (IWT)
Hauptabteilung Verfahrenstechnik, Reaktive Sprühtechnik
Fachbereich Produktionstechnik
FZB 1410
Tel.: +49 (0)421 218-51200

 

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